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紫外光刻

紫外光刻

的有关信息介绍如下:

紫外光刻是一种用于材料科学领域的工艺试验仪器,于2008年08月31日启用。它是用于将涂有光刻胶的晶片与掩膜对准,然后曝光,将掩膜的图形转移到晶片的光刻胶上,用于纳米器件的微加工。紫外光刻仪的技术指标包括光源为350WNUV汞灯,波长为365nm、400nm、436nm,均匀光束面积为6’diamaterarea,光束均匀性为±1-2%over2’diamater ±2-3%over4’diamaterarea ±3-5%over6’diamaterarea,掩模尺寸为3’and5’,硅片尺寸为2’and4’,曝光模式包括Softcontact、Hardcontact、Vacuumcontact、Proximitygap,最佳分辨率为0.6微米,曝光时间为0.1~999.9s可调,CCD分辨率为90x~600x。‌紫外光刻机是一种用于数学领域的分析仪器,于2012年7月1日启用,属于电子光学仪器类别。此外,还有深紫外光刻技术,它采用反射光照射的非成像方式,使用波长在180~260纳米的深紫外光通过平管透镜聚集成平行光照射在掩模版上,使掩模版的图像复印到基片上,可用于亚微米级精细图形的加工。‌光刻技术是制造芯片的核心步骤之一,通过类似照片冲印的技术,把掩膜版上的精细图形通过光线的曝光印制到硅片上。光刻机的工作环境需要超洁净,以保证微纳米尺度下的加工精度。‌

紫外光刻